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軟體名稱: PathWave WaferPro Express 2020.1.1
語系版本: 英文版
光碟片數: 單片裝(單面 DVD)
保護種類: 破解檔、授權伺服器
破解說明: 見最底下
系統支援: 適用 64 位元的 Windows 7/8.1/10
硬體需求: PC
軟體類型: 半導體元件核心量測
更新日期: 2021.09.18
軟體發行: Keysight Technologies(OD)
官方網站: https://www.keysight.com/tw/zh/products/software/pathwave-design-software/device-modeling-products/waferpro-express.html
中文網站: 無
軟體簡介: (以官方網站為準)
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WaferPro Express 晶圓級量測程式軟體。支援晶圓級量測和程式設計測試軟體,
可與各種儀器和晶圓探棒搭配使用。
WaferPro Express 軟體能夠對電晶體和電路元件等半導體元件,執行自動晶圓級
量測,並可提供完整的驅動程式和測試常式,以支援各種儀器和晶圓探棒。其全新
的操作介面使得設定和執行複雜的晶圓級測試方案變得非常簡單。新的 Python 程
式設計環境還可支援強大的客製功能。
WaferPro Express 是我們與 Cascade Microtech 攜手合作的產物,也是晶圓級量
測解決方案(WMS)的核心軟體。WMS 產品可加快進行首次量測的速度,並提供精
確和可重複的裝置和元件特性分析。如欲瞭解更多資訊,請參見晶圓級量測解決方
案
WaferPro Express 的主要特性
- 擁有全套測試演算法和儀器驅動程式,可以縮短軟體學習時間,加快量測系統的設定過程,讓您更快開始首次量測
- 現代化和直覺的操作介面方便您快速連接儀器,並確定測試計畫。為了進一步提高效率,該軟體還與 Cascade Microtech Nucleus 和 WinCal XE 軟體相整合,以便進行探量台控制和自動射頻校驗
- 與 Cascade Microtech 的最新控制軟體 Velox 2 進行了獨家整合。WaferPro Express 和 Velox 之間的全新 WaferSync 介面,可支援完整的晶圓映射同步功能,並能在測試方案執行期間,自動監測射頻校驗
- 如需處理大量資料時,Data Display、Wafer Mapping Data Viewer 和 SQL 資料庫等先進工具可以顯著提高生產率。此外,Python/PEL 程式設計環境讓您可以客製測試演算法和分析量測資料
- WaferPro Express 是先進低頻雜訊分析儀(A-LFNA)的正式軟體平台。先進低頻雜訊分析儀專為進行精確且可重複的低頻雜訊量測而設計
介紹
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站長安裝測試環境與安裝說明:
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‧測試環境 Windows 10.21H1 64位元繁體中文企業版、AMD CPU、4 GB 記憶體。
‧見光碟 "安裝說明.txt" 中文說明
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